UV-VIS-NIR 分光光譜儀
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JASCO® V770 UV/VIS/NIR 分光光譜儀 |
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型 號： |
IBXL0005-V770-EA |
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光 源： |
1. 氘氣燈for UV/VIS(190 ~ 350nm) 2. 鹵素燈for VIS/NIR(330 ~ 2700nm) |
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量測光斑大小： |
6×12 mm2 |
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量測波段範圍 : |
190 ~ 2700 nm |
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量測準確度： |
1. for UV/VIS range：±0.3 nm 2. for NIR range：±1.5 nm |
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量測模式： |
穿透光譜(%T)、吸收光譜(Abs) |
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光源是由不同波長的各色光組成，藉由光柵繞射的方式，使得光因各波長不同的繞射角散開成連續光譜，經過狹縫選擇，分離出單一且特定波長之單色光。以分光鏡將單色光分成強度相等的兩束光，一束通過樣品，另一束則作為參考光，並進行兩束光的強度比對，此比值即為樣品的透射比，記錄各波長的透射比則可獲得穿透光譜。以相同的方式，比較兩束光的強度衰減，可以獲得吸收光譜。
待測樣品規格及可量測項目
- 樣品要求：
- 種類：固態樣品(片狀或薄膜)
- 尺寸：片狀樣本最大面積可以8 × 8 cm2，但不得低於2 × 2cm2。
- 可量測項目：
穿透或吸收光譜：穿透式固態樣品(片狀或薄膜)量測
- 額外分析項目(須提供空白基板)：
- 單層薄膜光學常數(n, k…)分析
- 薄膜厚度分析
分析案例
- 單層薄膜穿透率量測
AlN單層膜穿透光譜
- 多層膜堆穿透率量測
以分光光譜儀量測抗反射多層膜之結果：
抗反射多層膜量測光譜